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動態光散射激光粒度儀應用領域中Z受關注的產品

更新時間:2015-03-26      點擊次數:1760
   動態光散射激光粒度儀的核心優勢在于其擁有技術的高解析度多峰反卷積分析模式,可清晰解析出緊密相鄰雙峰,尤其能解析出納米分散體系的原始顆粒主峰和尾部顆粒聚集峰,這對于研究和開發納米分散體系以及判定膠體體系的穩定性至關重要。動態光散射激光粒度儀還可以把動態光散射技術與電泳光散射技術有機地結合在一起測定顆粒分散體系的Zeta電位。測量方法是在含有樣品的樣品池中插入兩個電極并施加一定的電壓,帶電顆粒在電場中以一定速度向電性相反的電極方向移動,從而可通過測量顆粒的運動速度測得其剪切面的電位,即Zeta 電位。
  粒度測試是通過特定的動態光散射激光粒度儀和方法對粉體粒度特性進行表征的一項實驗工作。粉體在我們日常生活和工農業生產中的應用非常廣泛。如面粉、水泥、塑料、造紙、橡膠、陶瓷、藥品等等。在的不同應用領域中,對粉體特性的要求是各不相同的,在所有反映粉體特性的指標中,粒度分布是所有應用領域中zui受關注的一項指標。所以客觀真實地反映粉體的粒度分布是一項非常重要的工作。
  從動態光散射激光粒度儀發出的激光束經顯微發出的激光束顯微物鏡聚焦,針孔濾波和準直鏡準直后,變成直徑約10mm的平行光束,該光束照射到待測的顆粒上,一部分光被散射。散射光經傅立葉透射后,照射到光電探測器陣列上,探測器上的任一點都對應于某一確定的散射角,光電探測器陣列由一系列同心環帶組成,每個環帶是一個獨立的探測器,能將投射到上面的散射光能線性地轉換成電壓,然后送給動態光散射激光粒度儀數據采集卡,該卡將電信號放大,再進行A/D轉換后送入計算機。用特定的儀器和方法反映出的不同粒徑顆粒占粉體總量的百分數。有區間分布和累計分布兩種形式。區間分布又稱為微分分布或頻率分布,它表示一系列粒徑區間中顆粒的百分含量。累計分布也叫積分分布,它表示小于或大于某粒徑顆粒的百分含量。
  動態光散射激光粒度儀使用注意事項
  1.使用前,必須詳細閱讀使用說明書;
  2.動態光散射激光粒度儀內部有強電壓,嚴禁非工作人員私自拆卸儀器;
  3.避免用眼睛直視激光束,以免影響視力;
  4.電源電壓波動較大的區域應該加穩壓電源,動態光散射激光粒度儀必須使用三線接地電源插座,儀器接地必須可靠,并經常檢查接線端是否接觸良好,地線盡可能遠離電源線,避免與電源線交叉和纏繞;
  5.主機周圍不能有強電、磁干擾源,強電、磁干擾源包括:大電感、大電容器件(如大電動機)等;
  6.動態光散射激光粒度儀超聲池中無分散液時不能開啟超聲系統,分散液溫度不得超過60度,分散液不能有腐蝕性;
  7.接通訊電纜時,儀器必須處于斷電狀態,否則可能損壞通訊口;
  8.環境要求:實驗室要求溫度在5~35度,濕度控制在75%以下,在正常的實驗室條件下,空氣中的灰塵不影響測試,必要時要安裝空調,將儀器放在平整的實驗工作臺上,計算機和儀器的距離不能超過3米;
  9.用戶認為儀器運行不正常且不能確認原因時不得私自拆卸儀器。
  動態光散射激光粒度儀主要是使用物理的方法測試固體顆粒大小和分布的一種測量儀器,具有測量精度高、可靠性好、使用壽命長、測量范圍廣等優點,被廣泛的應用于多個領域中。根據動態光散射激光粒度儀電位可以確定等電點(IEP)。等電點是顆粒、膠體或分子在剪切面的凈電荷為零時的pH值,在此pH值下,膠體顆粒在電場中保持靜止不動。要想測定等電點,首先對顆粒分散體系進行一系列pH值滴定,然后分別測量不同pH值下的Zeta電位,Zeta電位為零時的pH值即為等電點。在此pH值附近顆粒不再具有靜電穩定性從而產生凝聚。
  動態光散射激光粒度儀的光在行進過程中遇到顆粒(障礙物)時,將有一部分偏離原來的傳播方法,這種現象稱為光的散射或者衍射。顆粒尺寸越小,散射角越大;顆粒尺寸越大,散射角越小。散射強度也依靠粒徑大小,隨著粒子體積減小而逐漸減小。大的粒子因此會產生強度較大的窄角度散射光而較小的粒子則散射較寬的角度但強度較低。動態光散射激光粒度儀就是根據光的散射現象測量顆粒大小的。
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